1. The film and depth profile analysis
پدیدآورنده : Edited by H. Oechsner
کتابخانه: کتابخانه مرکزی و مرکز اسناد دانشگاه شهید مدنی آذربایجان (أذربایجان الشرقیة)
موضوع : Thin films - Surfaces,Surface chemistry,Sputtering (physics)
رده :
QC
,
176
.
84
,.
S93T46
,
1984
2. Thin film and depth profile analysis
پدیدآورنده : edited by H., Oechsner; with contributions by H.-W. Etzkorn...]et al.[
کتابخانه: (طهران)
موضوع : Surfaces ، Thin films,، Surface chemistry,، Sputtering )Physics(
رده :
QC
176
.
84
.
S93T46
1984
3. Thin film processing and characterization of high-temperature superconductors, Anaheim, CA, 1987
پدیدآورنده :
کتابخانه: كتابخانه مركزي دانشگاه صنعتي شريف (طهران)
موضوع : Congresses ، Superconductors,Congresses ، Sputtering )Physics(,Congresses ، Thin films-- Surfaces,Congresses ، Materials at high temperatures,Congresses ، Surface chemistry
رده :
QC
611
.
9
.
T47
1988
